詳細(xì)摘要: TF200光學(xué)膜厚儀探頭同位接收反射光線。TF200根據(jù)反射回來的干涉光,用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測(cè)量范圍1nm-3mm,可同時(shí)完成多層膜厚的...
產(chǎn)品型號(hào):所在地:廣州市更新時(shí)間:2023-08-01 在線留言
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