詳細摘要: 貝拓白光干涉薄膜厚度測量儀Delta根據反射回來的干涉光,用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm,可同時完成多層膜厚的測試。對于100...
產品型號:Delta-NIR所在地:廣州市更新時間:2024-02-12 在線留言
廣州貝拓科學技術有限公司
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