目錄:日立科學(xué)儀器（北京）有限公司>>電子顯微鏡 (SEM/TEM/STEM)>> 熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SU5000
| 參考價(jià) | 面議 |
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更新時(shí)間：2025-10-30 08:12:11瀏覽次數(shù)：146評(píng)價(jià)
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操作高效便捷
創(chuàng)新的“EM Wizard”界面更加直觀，僅需要“點(diǎn)擊”即可得到的圖像。
超前的電腦輔助技術(shù)將電鏡的操作與控制提升到一個(gè)新水平。
| 項(xiàng)目 | 內(nèi)容 | |
|---|---|---|
| 分辨率 | 1.2 nm @ 30 kV 3.0 nm @ 1 kV 2.0 nm @ 1 kV 減速模式*1 3.0 nm @ 15 kV 低真空模式*2 | |
| 放大倍率 | 10 - 600,000× (底片倍率), 18 - 1,000,000× (800 × 600 像素) 30 - 1,500,000× (1,280 × 960 像素) | |
| 電子光學(xué)系統(tǒng) | 電子槍 | ZrO /W 肖特基式電子槍 |
| 加速電壓 | 0.5 - 30 kV (0.1 kV 步進(jìn)) | |
| 著陸電壓 | 減速模式: 0.1 - 2.0 kV ＊1 | |
| 束流 | > 200 nA | |
| 探測(cè)器 | 低位二次電子探測(cè)器 | |
| 低真空模式*2 | 真空范圍: 10 - 300 Pa | |
| 馬達(dá)臺(tái) | 馬達(dá)臺(tái)控制 | 5 - 軸自動(dòng) (優(yōu)中心) |
| 可動(dòng)范圍 | X：0～100mm Y：0～50mm Z：3～65mm T：-20～90° R：360° | |
| 樣品尺寸 | 直徑: 200 mm 高度: 80 mm | |
| 選配探測(cè)器 |
| |
樣品: 氧化鋅粉末
著陸電壓: 1 kV ; 倍率: 120,000x
低電壓下頂位二次電子探測(cè)器成像
樣品: PTFE
加速電壓: 3 kV ; 倍率: 13,000x
UVD探測(cè)器可在低加速電壓(3 kV)和低真空
(40 Pa) 下獲得高質(zhì)量圖像
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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