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來源：皓天鑫設備有限公司2026年01月08日11:18分享近日，皓天鑫自主研發的HAST穩態濕熱壽命老化箱順利通過連續1000小時穩定運行測試。在整個測試期間，設備始終保持設定的高溫高濕穩態環境，各
近期，半導體設備領域，尤其是高加速應力測試（HAST）試驗箱的市場動態日趨活躍，各大供應商布局加速，預示著該細分賽道即將迎來新一輪技術競爭與市場拓展。HAST試驗箱通過高溫、高濕、高壓的嚴苛復合環境，
隨著AI數據中心規模化建設加速，GPU及高帶寬內存（HBM）等高性能芯片需求爆發式增長。芯片的長期可靠性直接決定了數據中心算力的穩定性與生命周期。在這一背景下，高壓加速壽命測試（HAST）作為模擬嚴酷
近日，皓天鑫品牌與方正微電子正式達成合作，高加速穩態濕熱試驗箱（HAST）成功進駐方正微電子研發中心。該設備將主要用于集成電路芯片在高濕高溫環境下的可靠性測試，為其產品質量驗證與研發創新提供關鍵技術支
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