在半導體芯片量產過程中，高低溫環境下的性能穩定性是決定產品良率的關鍵因素。國內頭部半導體企業曾面臨車規級芯片量產故障率居高不下的難題，引入廣皓天冷熱沖擊箱后，通過精準模擬高低溫循環環境，成功將芯片量產故障率大幅降低，成為行業內可靠性測試的。
該半導體企業主要生產車規級與工業級芯片，此前因傳統測試設備溫變速率慢、控溫精度低，無法真實模擬芯片在環境下的工作狀態，導致芯片出廠后因溫度應力引發的焊點開裂、電性能漂移等故障頻發。廣皓天針對企業需求，定制了具備 - 60℃至 150℃寬溫域的冷熱沖擊箱，其溫變速率可達每分鐘 30℃，轉換時間≤5 秒，契合 AEC-Q100 汽車電子測試標準中 - 55℃?+150℃的嚴苛要求。
憑借冷熱沖擊箱 ±0.5℃的控溫精度與 ±1℃的溫度均勻性，企業成功定位到芯片封裝工藝中熱膨脹系數不匹配的問題。通過根據測試數據優化封裝材料，芯片焊點微裂紋發生率降低 40%，電性能參數漂移控制在 ±10% 以內。同時，測試周期從傳統的 72 小時壓縮至 48 小時，單批次測試效率提升 30%，每年多完成 60 批次測試，芯片出廠良率從 98% 提升至 99.5%。
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