一、介紹：SS1-STD3 SunScan冠層分析系統(tǒng)是一款簡便的測量和分析冠層中入射和透射光合有效輻射（PAR）的系統(tǒng)，提供了關(guān)于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息，如葉面積指數(shù)（LAI）。本系統(tǒng)不需要等待特殊的天氣條件進行使用，可以在大多數(shù)光照條件下進行測量工作（但是建議是在接近中午的時候）。

二、技術(shù)規(guī)格：

Sunscan傳感器

探測區(qū)域：長1米×寬13毫米，傳感器間距15.6毫米

光譜范圍：400~700nm（PAR）

測量時間：120毫秒

讀數(shù)：2500：μmol.m-2.s-1

分辨率：0.3：μmol.：m-2.s-1

線性：優(yōu)于1%

精度：±10%

模擬輸出：1mV/μmol.：m-2.s-1

通訊端口：RS232，9針D型接口

防護等級：IP65

工作溫度：0~60℃

尺寸：1300×100×130毫米

重量：1.7公斤

供電：4節(jié)AA堿性電池，可以使用1年

掌上數(shù)據(jù)管理器

顯示屏：1/4VGA防日光顯示屏

操作系統(tǒng)：WindowsM obile 6

顯示選項：葉面積指數(shù)（LAI）、平均光合有效輻射、單個傳感器的讀數(shù)

防護等級：IP67

工作溫度：-30~+60℃

跌落高度：1.2米

供電：可充電電池，可連續(xù)使用12小時

內(nèi)存：>100MB可用

尺寸規(guī)格：165×95×45毫米

重量：450克